RJL Micro & Analytic
ThermoFisher-FEI analytische Elektronenmikroskope SEM-EDX

«Was ist es, wieviel und woher?»

Diese Frage tritt täglich im Qualitätslabor auf: «Was ist es, wieviel liegt vor und woher stammt es?» 
Ein Explorer Raster-Elektronenmikroskop von ThermoFisher-FEI beantwortet diese Frage in wenigen Minuten.

Marker grau

ThermoFisher-FEI industrielle Elektronenmikroskope

 

 

 

 

 

 

 

www.fei.com

 

Der Explorer 4 bietet eine vollständige
Integration von mikroskopischer Abbildung
und Elementanalyse. Die robusten Geräte
werden in industriellen Prüflabors
für alle
Qualitätsaufgaben, Sauberkeitsprüfungen
und für die Partikelanalytik eingesetzt.

 

 

 

 

 

 

Marker grau

Weiterführende Links

 

 

 

 

  • ThermoFisher-FEI im Internet  www.fei.com
  • Spezifikationen als PDF (2.5 MB)  Explorer_4_Analyzer_Aspex_Brochure.pdf
  • Sauberkeitsanalyse mit SEM-EDX  Sauberkeitsanalyse mit SEM-EDX
  • Beauftragen Sie unser akkreditiertes
    Prüflabor mit Ihren Proben
    Analysenservice

 

Marker grau

Explorer 4 Analyzer (ehem. Aspex)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Explorer 4 Analyzer

 

Der Explorer 4 Analyzer ist das Nachfolgemodell des bekannten Aspex-Systems
in vierter Generation. Es handelt sich um ein SEM-EDX-System für automatische
Partikelanalyse mit Materialidentifikation, optimal geeignet für Bauteilsauberkeit,
Schadensanalytik, Qualitätskontrolle, etc.

 

 

Spezifikationen

 

 

 

Partikelgrößen
Abbildungsmodi
Hochspannung
Röntgendetektor
Vakuumsystem
Probenkammer
Motorisierung
Plattform
Software
Partikelanalyse

ab 0.5 µm
SE- und QuadBE-Detektor
variabel 5 bis 20 kV
stickstofffreies SDD-EDX, 25 mm²m 137 eV
Hochvakuum, variabler Niederdruck
Einschubprinzip, Bühne XYZ
100 mm x 100 mm x 35 mm
Windows-PC
Perception Suite 2
Recipe Automated Feature Sizing (RAFA), CleanCHK

 

 

 

 

 

 

 

Anwendungsbeispiele

 

 

 

 

 

 

 

automatische Teilchenanalyse

 

automatische Teilchenanalyse

 

 

 

 

 

 

 

Detektion von Schmauchspuren

 

Detektion von Schmauchspuren

 

 

 

 

 

 

 

Analyse von Stahleinschlüssen

 

Analyse von Stahleinschlüssen

 

 

 

 

 

 

 

verlässliche Metallpartikelanalyse

 

verlässliche Metallpartikelanalyse

 

 

 

 

 

 

© RJL Micro & Analytic GmbH, Im Entenfang 11, 76689 Karlsdorf-Neuthard, Deutschland (2007-18) - Impressum - Sitemap

 

Akkreditiertes Prüflabor Aspex Bauteilsauberkeit Bruker microCT E2V EDX Gunshot Residue GSR In-Vivo ISO-16232 ISO-17025 ISO-4405 ISO-4406 ISO-4407 Kubtec Laser-Mikroskopie Materialbestimmung Micro-CT MicroQuick Mikro-CT Mikrotomographie Millbrook MiniSIMS Nano-CT Nanotomographie Nanophoton Ölreinheitsanalyse Partikelanalyse Partikelscanner Partikeltypisierung PSEM Radiographie Rasterelektronenmikroskopie Raman-Mikroskopie REM Restschmutzanalyse Restschmutzbestimmung Röntgenanalyse Röntgeninspektion SAI Sauberkeitsanalyse SEM-EDX SGX Sensortech SIMS-TOF SkyScan South Bay Technology Stahleinschlussanalyse Technische Sauberkeit Time-Of-Flight VDA-19 Zerstörungsfreie Prüfung